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X射線顯微鏡

1.X射線顯微鏡與電子顯微鏡的區(qū)別

X 射線顯微鏡使用 X 射線作為光源，而電子顯微鏡則通過用電子束照射樣品來放大圖像。電子束是快速的電子流。原子由質(zhì)子和中子組成的原子核以及圍繞它運行的電子組成。當(dāng)質(zhì)子、中子和電子被稱為加速器的裝置加速到非常高的速度時，它們就會變成質(zhì)子束、中子束和電子束等輻射。

與X射線不同，電子束是粒子束，因此其穿透能力有限。電子束的穿透力由加速電壓決定，加速電壓越高，電子到達(dá)的深度越深，被照射物體的密度越低，電子穿透的深度也越深。

透射電子顯微鏡（TEM）
將電子束施加到薄膜樣品上，電子束穿過樣品，穿過電子透鏡，在電子束照射的熒光屏上形成放大的圖像。電子透鏡通過電場或磁場使電子束彎曲以形成圖像。

掃描電子顯微鏡(SEM)
在真空中將電子束縮小并照射以掃描樣品的表面，檢測從樣品發(fā)射的二次電子和背向散射電子。二次電子是通過照射電子束從樣品中噴射出的電子，背散射電子是從樣品表面反射的照射電子。

通過在掃描電子顯微鏡上安裝X射線檢測器，還可以將其用作?X射線分析裝置，以研究樣品中所含元素的種類和含量。

2. 掃描X射線顯微鏡

一種使用硬 X 射線作為探頭的 X 射線顯微鏡。硬X射線的波長較短，約為0.1 nm，原則上可以實現(xiàn)高分辨率。此外，與材料的相互作用是多種多樣的，包括透射（吸收）、折射和反射，以及光電子、熒光X射線、彈性散射、非彈性散射和磁吸收/散射。

此外，由于其高滲透性，可以進(jìn)行無損觀察，也可用于大氣中的測量。掃描X射線顯微鏡由聚焦X射線、掃描樣品的載物臺和檢測器組成，在進(jìn)行X射線分析（透射X射線、熒光X射線、散射X射線等）的同時進(jìn)行X射線分析。掃描樣本，可視化各種信息。