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什么是 X 射線顯微鏡？

X射線顯微鏡是利用X射線作為光源可以觀察物體結(jié)構(gòu)的顯微鏡。

用X射線照射物質(zhì)可以獲得各種信號(hào)，但X射線顯微鏡主要利用透射（吸收）X射線和熒光X射線進(jìn)行觀察。X射線具有很高的穿透性，當(dāng)它穿過物質(zhì)時(shí)，可以利用物質(zhì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)、厚度和成分特有的衰減反應(yīng)來獲取具有對(duì)比度的圖像。

此外，可以通過合成在旋轉(zhuǎn)樣本的同時(shí)連續(xù)獲取的3D圖像來獲取斷層圖像（所謂的CT）。在通常使用電磁波的顯微鏡中，空間分辨率取決于波長。X射線的波長比可見光短100到10,000倍，因此可以獲取詳細(xì)的圖像。