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能量色散型和波長色散型的特點(diǎn)

能量色散和波長色散檢測方法各有其特點(diǎn)，必須根據(jù)應(yīng)用適當(dāng)選擇。

1.能量色散型能量
色散型不需要光譜學(xué)，半導(dǎo)體探測器可以直接分析熒光X射線的波長，因此可以做得更小。此外，由于無需光譜分析即可同時(shí)進(jìn)行多種元素分析，因此可在短時(shí)間內(nèi)完成測量。由于無論樣品的形狀和凹凸如何都可以進(jìn)行測量，因此有時(shí)與電子顯微鏡結(jié)合使用。

另一方面，由于所得到的光譜的峰有時(shí)重疊，所以存在分辨率容易降低、難以檢測測定對(duì)象物中微量含有的元素的缺點(diǎn)。

2. 波長色散
型 在波長色散型中，熒光X射線被分析晶體分離并由檢測器測量。由于光譜是按波長劃分的，因此很容易分離相鄰的峰，并且往往具有高靈敏度和高分辨率。

另一方面，由于其復(fù)雜的光譜系統(tǒng)，該設(shè)備本身往往較大且昂貴。另外，由于在改變衍射角的同時(shí)進(jìn)行測量，因此測量時(shí)間比能量色散型長，并且樣品表面必須光滑。